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儀電物光WKL-702 顆粒圖像分析儀上海儀電物理光學

顆粒測量的顆粒分析儀器

將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理,具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。
1、圖像多種處理方法:影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖。

顆粒測量的顆粒分析儀器

儀器型號 WKL-702
測量范圍 0.1~3000(微米)
總放大倍數(shù) 8000倍
最大分辨率 0.1微米/像素
重復性 誤差≤±1%
自動分割速度 ≤1秒
數(shù)字攝像機(CCD) 500萬像素
數(shù)據(jù)儲存 電腦另配
通信接口 USB
操作系統(tǒng) Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可
電源 AC220V ±10% 200W
儀器尺寸 270mmX410mmX440mm
儀器凈重 15kg